LCR 미터 및 임피던스 측정

RF 컴포넌트 테스트를 위한 안정적인 성능
E5061B ENA 시리즈 네트워크 분석기
주파수: 100 kHz ~ 3 GHz
- 다양한 테스트 세트 옵션 중에서 테스트 요구 사항에 가장 적합한 구성을 선택: 100 kHz ~ 1.5 GHz/3 GHz, 2-포트, 50 또는 75 ohm, 전송/반사 또는 S-파라미터 테스트 세트
- LF-RF 옵션 (Option 3L5)으로 광범위한 어플리케이션 지원: 5 Hz ~ 3 GHz, 2-포트, 50 ohm, S-파라미터 테스트 세트, 이득-위상 테스트 포트, 내장 DC 바이어스 소스
- 하나의 계측기에 어플리케이션을 맞춤 구성하기 위하여 네트워크 분석과 임피던스 분석을 결합 (Option 3L5와 005 결합)
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  • 상세설명
    테스트 비용 절감
    - 높은 처리율, 반복성 및 신뢰성으로 정확하고 믿을 수 있는 테스트 스테이션 생성
    - 직관적인 사용자 인터페이스로 측정 흐름을 간소화하고 더 짧은 시간에 더 나은 결과 실현
    - 주파수 및 테스트 포트와 같은 하드웨어 및 소프트웨어를 포함한 업그레이드를 통해 자산 보호

    보다 다양한 측정 기능으로 더 깊은 통찰력 실현
    - 선형 및 비선형 디바이스 특성 분석
    - 시간 도메인, 주파수 도메인 및 eye 다이어그램 분석의 고속 시리얼 인터커넥트 분석
    - 재료 측정, 전력 무결성 분석 및 새로운 어플리케이션을 위해 확장 가능
  • 기술사양
    E5061B ENA 시리즈
    최대 주파수 3 GHz
    동적 범위 120 dB
    출력 전력 10 dBm
    트레이스 노이즈 0.005 dBrms
    내장 포트 수 2 포트
    고조파 -25 dBc
    노이즈 플로어 -110 dBm
    201 포인트, 1스위프 일 때 최고 속도 9 ms
    어플리 케이션 S-파라미터, DTF(Distancee-To-Fault), 반사 손실,
    삽입 손실/이득, LF 회로 (5 Hz)
    컴포넌트 케이블, 앰프, 공진기, DC-DC 컨버터/PDN,
    안테나/코일/RFID, 필터, LCR 콤포넌트
  • 액세서리
    50 Ω RF NA options
    E5061B-115 Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 50 Ω system impedance
    E5061B-215 S-parameter test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 50 Ω system impedance
    E5061B-135 Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 3 GHz, 50 Ω system impedance
    E5061-235 S-parameter test set, 100 kHz to 3 GHz, 50 Ω system impedance
    75 Ω RF NA options
    E5061B-117 Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 75 Ω system impedance
    E5061B-217 S-parameter test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 75 Ω system impedance
    E5061B-137 Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 3 GHz, 75 Ω system impedance
    E5061B-237 S-parameter test set, 100 kHz to 3 GHz, 75 Ω system impedance
    LF-RF NA option
    E5061B-3L5 LF-RF network analyzer with DC bias source, 5 Hz to 3 GHz